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高低溫沖擊ESS試驗箱
簡要描述：高低溫沖擊ESS試驗箱賽思改變了傳統(tǒng)進(jìn)行溫度循環(huán)、高低溫沖擊（2 Zoon）、高低溫+常溫沖擊（3 Zoon）、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購買四臺設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設(shè)備才能完成的試驗，需耗費(fèi)許多添購設(shè)備&占用空間的硬件成本， 一次解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗的多樣性與多變性，提高機(jī)臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費(fèi)時間手動調(diào)整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定，賽思秉持著
所屬分類：冷熱沖擊快速溫變試驗箱
更新時間：2024-05-23
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
| 品牌 | SETH/賽思 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
高低溫沖擊ESS試驗箱賽思改變了傳統(tǒng)進(jìn)行溫度循環(huán)、高低溫沖擊(2 Zoon)、高低溫+常溫沖擊(3 Zoon)、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購買四臺設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設(shè)備才能完成的試驗，需耗費(fèi)許多添購設(shè)備&占用空間的硬件成本， 一次解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗的多樣性與多變性，提高機(jī)臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費(fèi)時間手動調(diào)整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定，賽思秉持著符合規(guī)范的原則，結(jié)合貼心的創(chuàng)新功能與技術(shù)，期待您詳細(xì)了解。
高低溫沖擊ESS試驗箱特點(diǎn)：
1.可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；2.等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)；3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求； 4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行；5.除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成；6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；7.感測器放置測試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實驗有效性；8.機(jī)臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報警功能；
技術(shù)創(chuàng)新：
傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式：制冷壓縮機(jī)啟停控制溫度（溫度波動大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。 該技術(shù)基于美國Sporlan公司定制型號的PWM控制閥：
該技術(shù)通過電磁閥的頻繁動作實現(xiàn)對各管道流量的調(diào)節(jié)，標(biāo)準(zhǔn)電磁閥不能適應(yīng)，會在很短時間出現(xiàn)金屬疲勞損壞，目前支持該技術(shù)的高性能閥門只有美國Sporlan公司生產(chǎn)的XM系列產(chǎn)品（該產(chǎn)品無法從正常渠道進(jìn)口），下圖為電磁閥的區(qū)別。
TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗 |
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | |
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) | |
24℃/min→ | 光纖連接頭 | |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命 | |
| ||
17℃/min→ | MOTO | |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) | |
11℃/min→ | 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | |
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 | |
5℃/min→
| 錫須溫度循環(huán)試驗 |
型號：
型號 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內(nèi)箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
溫度范圍 | -80.00℃～+200.00℃ | |||
低溫沖擊范圍 | -10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ | |||
高溫沖擊范圍 | +60.00℃～+150.00℃ | |||
時間設(shè)定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
溫度波動度 | ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） | |||
溫度偏差 | ≤±2℃（-65℃～+150℃） | |||
溫度均勻度 | ＜2.00℃以內(nèi) | |||
溫變速率（斜率） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
溫變范圍 | -55℃～+85℃//+125℃ | |||
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